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一、儀器設(shè)備高低溫試驗箱|溫濕度交變老化箱產(chǎn)品用途:

適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗。

1、性能指標:
  溫度范圍: A:-20℃～150℃ B:-40℃～150℃ C:-60℃～150℃ D:-70℃～150℃ 波動/均勻度: ≤±0.5℃/≤±2℃
  升溫速率: 1.0～3.0℃/min 降溫速率: 0.7～1.0℃/min
 2、運行控制系統(tǒng):
  控制器: 進口LED數(shù)顯P、I、D +S、S、R.微電腦集成控制器
 精度范圍: 設(shè)定精度：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃
  傳感器: 鉑金電阻 PT100Ω/MV
  加熱系統(tǒng): 全獨立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器
 制冷系統(tǒng): 全封閉風冷單級壓縮制冷方式/原裝法國“泰康”/全封閉風冷復迭壓縮制冷方式 循環(huán)系統(tǒng): 耐溫低噪音空調(diào)型電機.多葉式離心風輪
 

二.儀器設(shè)備高低溫試驗箱|溫濕度交變老化箱滿足標準：

GB/T2423.1-2008 試驗A：低溫試驗方法；                GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件；
GB/T2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法                   GB/T11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件；
GB/T10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件；                GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法；       
IEC60068-2-1：2007 低溫試驗箱試驗方法；              GJB150.4 低溫試驗；
IEC60068-2-2：2007 高溫試驗箱試驗方法；              GJB150.3 高溫試驗；
IEC68-2-1 試驗A：寒冷；                              IEC68-2-2 試驗B：干熱；